半導体製品の不良解析技術開発エンジニア|【東京】
- 正社員
- ※年齢、経験、能力を考慮のうえ、規定により決定
- 東京都小平市
1. 職務内容
・半導体製品テストデータを用いたソフトウェア解析技術開発&システム構築
・Linux上で上記ツールを駆使した故障位置特定と原因解析
2. 背景
先端プロセスのウェハ価格は高く、製造歩留のコストインパクトは非常に大きい。
この歩留向上のため、不良の真因を究明し、製造プロセスや量産テストを改善していくことが重要。
ルネサスでは、テストデータを基に、製造プロセス、設計情報、量産テスト環境などを組み合わせた分析・解析を行い、またソフトウェアによる故障診断とハードウェハ解析を駆使した高い解析技術力で真因究明し、歩留改善につなげている。
しかし、昨今は製造工程の微細化に伴い解析難易度はますます高くなっているため、現在保有している技術の維持と先端(3nm)プロセスに向けた不良解析技術開発のため人材を強化する。
事業内容・業種
半導体